Measurable lower limit of thin film conductivity with parallel plate waveguide terahertz time domain spectroscopy

Manjakavahoaka Razanoelina; Shohei Ohashi; Iwao Kawayama; Hironaru Murakami; Annick F. Dégardin; Alain J. Kreisler; Masayoshi Tonouchi

doi:10.1364/OL.42.003056

Measurable lower limit of thin film conductivity with parallel plate waveguide terahertz time domain spectroscopy

Manjakavahoaka Razanoelina ¹ Shohei Ohashi ¹ Iwao Kawayama ¹ Hironaru Murakami ¹ Annick F. Dégardin ² Alain J. Kreisler ² Masayoshi Tonouchi ¹

1 Institute of laser Engineering

2 GeePs - Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris

Type de document :

Article dans une revue

Optics Letters, Optical Society of America, 2017, 42 (15), pp.3056-3059. 〈10.1364/OL.42.003056〉

Domaine :

Physique [physics] / Physique [physics] / Optique [physics.optics]

Physique [physics] / Matière Condensée [cond-mat]

Physique [physics] / Matière Condensée [cond-mat] / Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]

Sciences de l'ingénieur [physics] / Electromagnétisme

Sciences de l'ingénieur [physics] / Matériaux

Liste complète des métadonnées

https://hal-centralesupelec.archives-ouvertes.fr/hal-01633904
Contributeur : Alain Kreisler <>
Soumis le : lundi 13 novembre 2017 - 15:10:07
Dernière modification le : jeudi 5 avril 2018 - 12:30:24

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