Characterization of piezo-generation performances of GaN nanowires: contribution of conductive probe AFM - Archive ouverte HAL Access content directly
Conference Papers Year : 2019

Characterization of piezo-generation performances of GaN nanowires: contribution of conductive probe AFM

Apport de l'AFM à pointe conductrice pour la caractérisation des performances de piézo-génération de nanofils GaN

(1, 2) , (2) , (1) , (1) , (2)
1
2
Not file

Dates and versions

hal-02152858 , version 1 (11-06-2019)

Identifiers

  • HAL Id : hal-02152858 , version 1

Cite

Tanbir Sodhi, Pascal Chrétien, Nicolas Jamond, Noëlle Gogneau, Frédéric Houzé. Apport de l'AFM à pointe conductrice pour la caractérisation des performances de piézo-génération de nanofils GaN. 22ème Forum des Microscopies à Sondes Locales, Mar 2019, Carry-le-Rouet, France. pp.167. ⟨hal-02152858⟩
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