Characterization of piezo-generation performances of GaN nanowires: contribution of conductive probe AFM

Apport de l'AFM à pointe conductrice pour la caractérisation des performances de piézo-génération de nanofils GaN

Tanbir Sodhi (1, 2) , Pascal Chrétien (2) , Nicolas Jamond (1) , Noëlle Gogneau (1) , Frédéric Houzé (2)

1 C2N - Centre de Nanosciences et de Nanotechnologies [Marcoussis]
2 GeePs - Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris

Domains: Engineering Sciences [physics]; Micro and nanotechnologies/Microelectronics

Tanbir Sodhi, Pascal Chrétien, Nicolas Jamond, Noëlle Gogneau, Frédéric Houzé. Apport de l'AFM à pointe conductrice pour la caractérisation des performances de piézo-génération de nanofils GaN. 22ème Forum des Microscopies à Sondes Locales, Mar 2019, Carry-le-Rouet, France. pp.167. ⟨hal-02152858⟩