Passivated Selective Contact Structure Characterization by C-AFM and KPFM of the Conduction by Pinholes

Clément Marchat (1, 2) , Audrey Morisset (2, 1, 3) , José Alvarez (2) , Raphaël Cabal (3) , Marie-Estelle Gueunier (2) , Jean-Paul Kleider (2)

1 IPVF - Institut Photovoltaïque d’Ile-de-France (UMR)
2 GeePs - Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris
3 INES - Institut National de L'Energie Solaire

Domaines: Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]; Micro et nanotechnologies/Microélectronique; Energie électrique; Optique / photonique; Matériaux

Clément Marchat, Audrey Morisset, José Alvarez, Raphaël Cabal, Marie-Estelle Gueunier, et al.. Passivated Selective Contact Structure Characterization by C-AFM and KPFM of the Conduction by Pinholes. 28th International Conference on Amorphous and nanocrystalline Semiconductors (ICANS 28), Aug 2019, Palaiseau, France. ⟨hal-02344005⟩