Mesures locales de photoconductivité par AFM à pointe conductrice sur des dispositifs métal-semiconducteur-métal à base de diamant - CentraleSupélec

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Conference Papers Year : 2006

Mesures locales de photoconductivité par AFM à pointe conductrice sur des dispositifs métal-semiconducteur-métal à base de diamant

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José Alvarez

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Laboratoire de génie électrique de Paris

Jean-Paul Kleider

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Laboratoire de génie électrique de Paris

Frédéric Houzé

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Laboratoire de génie électrique de Paris

Pascal Chrétien

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Laboratoire de génie électrique de Paris

M. Liao

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Y. Koide

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https://hal-centralesupelec.archives-ouvertes.fr/hal-00320320

Submitted on : Wednesday, September 10, 2008-4:46:48 PM

Last modification on : Friday, March 24, 2023-2:52:50 PM

Dates and versions

hal-00320320 , version 1 (10-09-2008)

Identifiers

HAL Id : hal-00320320 , version 1

Cite

José Alvarez, Jean-Paul Kleider, Frédéric Houzé, Pascal Chrétien, M. Liao, et al.. Mesures locales de photoconductivité par AFM à pointe conductrice sur des dispositifs métal-semiconducteur-métal à base de diamant. Réunion Annuelle VEECO des Utilisateurs d'AFM, 2006, France. ⟨hal-00320320⟩

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