Conductive-atomic force microscopy characterization of silicon nanowires - CentraleSupélec

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Communication Dans Un Congrès Année : 2010

Conductive-atomic force microscopy characterization of silicon nanowires

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José Alvarez

Fonction : Auteur
PersonId : 5252
IdHAL : jose-alvarez
ORCID : 0000-0003-3558-8302
IdRef : 089018222

Laboratoire de génie électrique de Paris

Irène Ngo

Fonction : Auteur

Laboratoire de génie électrique de Paris

Marie-Estelle Gueunier-Farret

Fonction : Auteur
PersonId : 14061
IdHAL : marie-gueunier-farret
ORCID : 0000-0003-1615-498X
IdRef : 166935093

Jean-Paul Kleider

Fonction : Auteur
PersonId : 5984
IdHAL : jean-paul-kleider
ORCID : 0000-0003-4388-6326
IdRef : 03273039X

Laboratoire de génie électrique de Paris

Lianbo Yu

Fonction : Auteur

Pere Roca I Cabarrocas

Fonction : Auteur
PersonId : 760063
ORCID : 0000-0003-2241-2762
IdRef : 034125663

Simon Perraud

Fonction : Auteur

E. Rouvière

Fonction : Auteur

Olivier Schneegans : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://centralesupelec.hal.science/hal-00555251

Soumis le : mercredi 12 janvier 2011-17:23:05

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:54

Dates et versions

hal-00555251 , version 1 (12-01-2011)

Identifiants

HAL Id : hal-00555251 , version 1

Citer

José Alvarez, Irène Ngo, Marie-Estelle Gueunier-Farret, Jean-Paul Kleider, Lianbo Yu, et al.. Conductive-atomic force microscopy characterization of silicon nanowires. E-MRS 2010 Fall Meeting, Sep 2010, Varsovie, Poland. ⟨hal-00555251⟩

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