Article Dans Une Revue
Sensing and Imaging: An International Journal
Année : 2015
Frédéric Houzé : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://centralesupelec.hal.science/hal-01235862
Soumis le : lundi 30 novembre 2015-18:56:18
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-20:52:58
Citer
Alexis Peschot, Maxime Vincent, Christophe Poulain, Denis Mariolle, Frédéric Houzé, et al.. Conducting Probe Atomic Force Microscope as a Relevant Tool for Studying Some Phenomena in MEMS Switches. Sensing and Imaging: An International Journal, 2015, 16, pp.21. ⟨10.1007/s11220-015-0124-1⟩. ⟨hal-01235862⟩
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