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Conference papers

Imagerie de résistance électrique locale sur matériaux fragiles par microscopie à force atomique à pointe conductrice en mode contact intermittent

Aymeric Vecchiola 1 Pascal Chrétien 2 Karim Bouzehouane 1 Olivier Schneegans 2 Pierre Seneor 1 Sergio Tatay 3 Frédéric Houzé 2 
1 UMPhy CNRS/THALES - Unité mixte de physique CNRS/Thales
2 GeePs - Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris
3 Molecular Science Institute
Document type :
Conference papers
Complete list of metadata
https://hal-centralesupelec.archives-ouvertes.fr/hal-01317747
Contributor : Frédéric Houzé Connect in order to contact the contributor
Submitted on : Wednesday, May 18, 2016 - 6:40:01 PM
Last modification on : Saturday, June 25, 2022 - 10:20:36 PM

Identifiers

  • HAL Id : hal-01317747, version 1

Collections

UPMC | CNRS | CENTRALESUPELEC | GEEPS | PHEMADIC | UNIV-PARIS-SACLAY | SORBONNE-UNIVERSITE | SU-SCIENCES | ANR | GS-ENGINEERING | INSTITUT-SCIENCES-LUMIERE

Citation

Aymeric Vecchiola, Pascal Chrétien, Karim Bouzehouane, Olivier Schneegans, Pierre Seneor, et al.. Imagerie de résistance électrique locale sur matériaux fragiles par microscopie à force atomique à pointe conductrice en mode contact intermittent. 19e Forum des Microscopies à Sonde Locale, Mar 2016, Sochaux-Montbéliard, France. ⟨hal-01317747⟩

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