Imagerie de résistance électrique locale sur matériaux fragiles par microscopie à force atomique à pointe conductrice en mode contact intermittent - Archive ouverte HAL Access content directly
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Imagerie de résistance électrique locale sur matériaux fragiles par microscopie à force atomique à pointe conductrice en mode contact intermittent

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Domains

Engineering Sciences [physics] Micro and nanotechnologies/Microelectronics

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Submitted on : Wednesday, May 18, 2016-6:40:01 PM

Last modification on : Wednesday, October 26, 2022-1:36:06 PM

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Dates and versions

hal-01317747 , version 1 (18-05-2016)

Identifiers

  • HAL Id : hal-01317747 , version 1

Cite

Aymeric Vecchiola, Pascal Chrétien, Karim Bouzehouane, Olivier Schneegans, Pierre Seneor, et al.. Imagerie de résistance électrique locale sur matériaux fragiles par microscopie à force atomique à pointe conductrice en mode contact intermittent. 19e Forum des Microscopies à Sonde Locale, Mar 2016, Sochaux-Montbéliard, France. ⟨hal-01317747⟩

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