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Conference papers
Imagerie de résistance électrique locale sur matériaux fragiles par microscopie à force atomique à pointe conductrice en mode contact intermittent
Aymeric Vecchiola
1
Pascal Chrétien
2
Karim Bouzehouane
1
Olivier Schneegans
2
Pierre Seneor
1
Sergio Tatay
3
Frédéric Houzé
2
Aymeric Vecchiola 1
Author
Pascal Chrétien 2
Author IdHAL : pascal-chretien
Karim Bouzehouane 1
Author
Olivier Schneegans 2
Author IdHAL : olivier-schneegans ORCID : https://orcid.org/0000-0001-9741-3327
Pierre Seneor 1
Author IdHAL : pierre-seneor
Sergio Tatay 3
Author
Frédéric Houzé 2
Author IdHAL : frederic-houze
1
UMPhy CNRS/THALES - Unité mixte de physique CNRS/Thales ( 1 avenue Augustin Fresnel, 91767 Palaiseau Cedex, France - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR137 (France)
- THALES (France)
2
GeePs - Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris (11, rue Joliot Curie
Plateau de Moulon
91192 Gif sur Yvette - France)
- UP11 - Université Paris-Sud - Paris 11 (Bâtiment 300 - 91405 Orsay cedex - France)
- UPMC - Université Pierre et Marie Curie - Paris 6 (4 place Jussieu - 75005 Paris - France)
- CentraleSupélec (3, rue Joliot Curie, Plateau de Moulon, 91192 GIF-SUR-YVETTE Cedex - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR8507 (France)
3
Molecular Science Institute (P.O. Box 22085, ES-46071 Valencia - Spain)
- University of Valencia (France)
Document type :
Conference papers
Complete list of metadata
https://hal-centralesupelec.archives-ouvertes.fr/hal-01317747
Contributor : Frédéric Houzé Connect in order to contact the contributor
Submitted on : Wednesday, May 18, 2016 - 6:40:01 PM
Last modification on : Thursday, October 14, 2021 - 11:22:02 AM
Contributor : Frédéric Houzé Connect in order to contact the contributor
Submitted on : Wednesday, May 18, 2016 - 6:40:01 PM
Last modification on : Thursday, October 14, 2021 - 11:22:02 AM
Identifiers
- HAL Id : hal-01317747, version 1
Collections
Citation
Aymeric Vecchiola, Pascal Chrétien, Karim Bouzehouane, Olivier Schneegans, Pierre Seneor, et al.. Imagerie de résistance électrique locale sur matériaux fragiles par microscopie à force atomique à pointe conductrice en mode contact intermittent. 19e Forum des Microscopies à Sonde Locale, Mar 2016, Sochaux-Montbéliard, France. ⟨hal-01317747⟩
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