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Conference papers

Imagerie de résistance électrique locale sur matériaux fragiles par microscopie à force atomique à pointe conductrice en mode contact intermittent

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https://hal-centralesupelec.archives-ouvertes.fr/hal-01317747
Contributor : Frédéric Houzé Connect in order to contact the contributor
Submitted on : Wednesday, May 18, 2016 - 6:40:01 PM
Last modification on : Monday, April 4, 2022 - 10:40:40 AM

Identifiers

  • HAL Id : hal-01317747, version 1

Citation

Aymeric Vecchiola, Pascal Chrétien, Karim Bouzehouane, Olivier Schneegans, Pierre Seneor, et al.. Imagerie de résistance électrique locale sur matériaux fragiles par microscopie à force atomique à pointe conductrice en mode contact intermittent. 19e Forum des Microscopies à Sonde Locale, Mar 2016, Sochaux-Montbéliard, France. ⟨hal-01317747⟩

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