Imagerie de résistance électrique locale sur matériaux fragiles par microscopie à force atomique à pointe conductrice en mode contact intermittent

Aymeric Vecchiola 1 Pascal Chrétien 2 Karim Bouzehouane 1 Olivier Schneegans 2 Pierre Seneor 1 Sergio Tatay 3 Frédéric Houzé 2
1 UMP CNRS/THALES - Unité mixte de physique CNRS/Thalès
2 GeePs - Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris
3 Molecular Science Institute
Type de document :
Communication dans un congrès
19e Forum des Microscopies à Sonde Locale, Mar 2016, Sochaux-Montbéliard, France. Actes du 19e Forum des Microscopies à Sonde Locale
Liste complète des métadonnées
https://hal-centralesupelec.archives-ouvertes.fr/hal-01317747
Contributeur : Frédéric Houzé <>
Soumis le : mercredi 18 mai 2016 - 18:40:01
Dernière modification le : vendredi 31 août 2018 - 08:54:38

Identifiants

  • HAL Id : hal-01317747, version 1

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UPMC | GEEPS | CENTRALESUPELEC | PHEMADIC | UNIV-PARIS-SACLAY

Citation

Aymeric Vecchiola, Pascal Chrétien, Karim Bouzehouane, Olivier Schneegans, Pierre Seneor, et al.. Imagerie de résistance électrique locale sur matériaux fragiles par microscopie à force atomique à pointe conductrice en mode contact intermittent. 19e Forum des Microscopies à Sonde Locale, Mar 2016, Sochaux-Montbéliard, France. Actes du 19e Forum des Microscopies à Sonde Locale. 〈hal-01317747〉

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