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Article Dans Une Revue Semiconductor Science and Technology Année : 2019

Hydrogenated amorphous silicon characterization from steady state photoconductive measurements

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hal-02280592 , version 1 (30-10-2019)

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Citer

Leonardo Kopprio, Christophe Longeaud, Javier Schmidt. Hydrogenated amorphous silicon characterization from steady state photoconductive measurements. Semiconductor Science and Technology, 2019, 34 (4), ⟨10.1088/1361-6641/ab0765⟩. ⟨hal-02280592⟩
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