Optical Characterization Of Thick InGaN Layers For Solar Cell Applications - Laboratoire Matériaux Optiques, Photonique et Systèmes Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2012

Optical Characterization Of Thick InGaN Layers For Solar Cell Applications

Domaines

Optique [physics.optics]

Jean Paul Salvestrini  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00736780

Soumis le : samedi 29 septembre 2012-17:50:14

Dernière modification le : mardi 12 septembre 2023-14:06:26

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00736780 , version 1 (29-09-2012)

Licence

Paternité - Pas d'utilisation commerciale

Identifiants

  • HAL Id : hal-00736780 , version 1

Citer

Y. El Gmili, G. Orsal, K. Pantzas, T. Moudakir, A. Ahaitouf, et al.. Optical Characterization Of Thick InGaN Layers For Solar Cell Applications. International conference on Advanced Materials for Photonics, Sensing and Energy Conversion Applications, Dec 2012, El Jadida, Morocco. ⟨hal-00736780⟩

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